Celebració a l'EPSEVG d'una jornada amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia

El passat dissabte dia 19 de maig es va celebrar a la sala d'actes de l'EPSEVG el Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig). 

Aquesta és la primera jornada organitzada per la Secció Catalana de Metrologia (SCM) en el nostre Campus. La jornada duia per nom "El sistema internacional d'unitats (SI). Evolució constant" i va constar de dues parts: l'objectiu de la primera va ser donar a conèixer les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i a la segona es van donar nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i d'educació superior. 

Les quatre ponències van donar peu al diàleg sobre les noves metodologies docents i per altra banda al debat sobre la normalització del sistema internacional de mesures.

★ ★ ★ ★ ★