Us convidem a assistir a la jornada que és celebrarà amb motiu del Dia Mundial de la Metrologia (20 de maig).
Aquesta primera jornada se celebra el proper dissabte 19 de maig, al campus de la Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) a Vilanova i la Geltrú, concretament a l’Escola Politècnica Superior d’Enginyeria (EPSEVG), organitzada per la Secció Catalana de Metrologia (SCM).
La jornada es denomina “El sistema internacional d’unitats (SI). Evolució constant” i consta de dues parts: l’objectiu de la primera és donar a conèixer les noves definicions de les unitats del sistema internacional (SI), i en la segona es donaran nocions sobre com introduir i explicar aquest tema en els àmbits acadèmics de secundària i educació superior. Per realitzar la inscripció i veure el programa de la jornada es pot accedir al següent enllaç.